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在線CT3DXray/AOI檢測設備
尼康 X-TEK xray檢測設備 XT V 160系統范圍具有亞微米特征識別功能,可滿足當今對復雜電子元件進行高性能、無損檢測的需要。尼康Xi Nanotech X射線源與平板探測器相配,可產生清晰的圖像質量,并在2D和3D檢測之間實現無縫轉換。這些系統能夠直觀地使用和利用業界的軟件,最大限度地提高所有操作員的生產效率,同時減少培訓需求。
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