半導體芯片檢測 TH/TR3000i
簡要描述：半導體芯片檢測 TH/TR3000iTH3000i配有2x14支吸嘴可提高機器的吞吐量高達60K（托盤至托盤）,多功能分類吸嘴以及疊料檢測。TR3000i - JEDEC盤 / 卷帶輸出2維，3維，球，無管腳檢測系統擁有2x14支吸嘴可提高機器的吞吐量高達60K（托盤至托盤）以及吞吐量25K（托盤至卷帶）。
產品型號：
所屬分類：ViTrox偉特 TR/TH3000i
更新時間：2023-02-23
廠商性質：其他
詳情介紹
視覺檢測：3維檢測, 管腳檢測, 錫球檢測, QFN檢測, POP頂部檢測, 二維碼檢測, 印字檢測, 表面檢測, 被動元件檢測, 六側顏色檢測
TH3000i產品介紹
一、吸嘴自動間距調整
自行編程吸嘴自動間距轉換以縮短設定時間。
二、多功能分類吸嘴
1x2沿Z方向吸嘴予更快速及可靠的封裝分類。
2x14吸嘴的最終封裝分類。
三、疊料檢測
雙排X光高度測量傳感器檢測托盤中的疊料。
TR3000i產品介紹
一、吸嘴自動間距調整
自行編程吸嘴自動間距轉換以縮短設定時間。
二、7支JEDEC盤至卷帶吸嘴
可提高機器的吞吐量高達25K（托盤至卷帶）
三、自動卷帶轉換功能
全電腦化調整卷帶范圍
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